技术参数
测试范围:0.04μm~500μm
光 源:半导体激光器(波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上)
进样方式:湿法测试
样品浓度:0.5‰~1%(与样品有比重、颗粒大小、折射率有关)
测试时间:少于1分钟/次,不含样品分散时间
扫描速度:2000次/秒
重复性误差:≦1%
电源:交流220V±10%50Hz或60Hz,功率:80W
微机接口:需计算机配合使用,标准 RS-232串行接口
操作系统:可在Windows所有版本的操作系统下运行
技术参数
测试范围:0.04μm~500μm
光 源:半导体激光器(波长635 nm.功率3mw.使用寿命25000小时以上)
进样方式:湿法测试
样品浓度:0.5‰~1%(与样品有比重、颗粒大小、折射率有关)
测试时间:少于1分钟/次,不含样品分散时间
扫描速度:2000次/秒
重复性误差:≦1%
电源:交流220V±10%50Hz或60Hz,功率:80W
微机接口:需计算机配合使用,标准 RS-232串行接口
操作系统:可在Windows所有版本的操作系统下运行