紫外辐照计 MKY-UV-340

该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

u     主要性能指标

  ※    波长范围及峰值波长：UV－340探头：λ：(315～370)nm；λ_P＝340nm

  ※    辐照度测量范围：(0.1～199.9×10³)μW/cm²

  ※    紫外带外区杂光：UV340：小于0.05％

  ※    余弦特性：符合国家二级光照度标准

  ※    示值相对误差：±10％

  ※    响应时间：1秒

  ※    使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH

  ※    尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

  ※    电源：9V积层电池（6F22型）一只

紫外辐照计 MKY-UV-340

该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

u     主要性能指标

  ※    波长范围及峰值波长：UV－340探头：λ：(315～370)nm；λ_P＝340nm

  ※    辐照度测量范围：(0.1～199.9×10³)μW/cm²

  ※    紫外带外区杂光：UV340：小于0.05％

  ※    余弦特性：符合国家二级光照度标准

  ※    示值相对误差：±10％

  ※    响应时间：1秒

  ※    使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH

  ※    尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

  ※    电源：9V积层电池（6F22型）一只